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太陽能電池硅片測厚儀

簡要描述:太陽能電池硅片測厚儀適用包裝塑料薄膜、紙張、電容BOPP薄膜、金屬鋁箔、太陽能電池硅片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測量。采用全自動測試模式,可連續(xù)測量也可單點測量模式,測試分辨率高達0.0001mm。

測試原理采用接觸式測試,截取一定尺寸試樣,測厚儀測量頭自動降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值

  • 產(chǎn)品型號:HP-CHY-G
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-05
  • 訪  問  量:754

詳細(xì)介紹

品牌恒品應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,印刷包裝,冶金,綜合

太陽能電池硅片測厚儀適用包裝塑料薄膜、紙張、電容BOPP薄膜、金屬鋁箔、太陽能電池硅片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測量。采用全自動測試模式,可連續(xù)測量也可單點測量模式,測試分辨率高達0.0001mm。

測試原理采用接觸式測試,截取一定尺寸試樣,測厚儀測量頭自動降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。

太陽能電池硅片測厚儀

技術(shù)特征

測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

微電腦控制、大液晶顯示
手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
配備微型打印機,數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印,方便快捷地獲取測試結(jié)果
測厚儀自動保存最多100組測試結(jié)果,隨時查看并打印
標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備

滿足標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

技術(shù)指標(biāo)

測量范圍:02mm(常規(guī))

  率:0.1μm

測量速度:10/min(可調(diào))

測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張) 

接觸面積:50mm2(薄膜);200mm2(紙張) 

注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制

    源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)

    重:30kg 

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