鍍鋁膜測厚儀由于其測試原理、技術難度、精度量程范圍、使用場合等特殊原因，國內實驗儀器廠家開發(fā)此產品的并不多，傳統(tǒng)的機械測試法精度zui的也只能到微米級。煙包、食品、醫(yī)藥、車燈等行業(yè)涉及的鍍鋁膜很薄，以埃為單位。控制鍍鋁膜的厚度就需要高精度的鍍鋁膜測厚儀，1 微米(μm) = 1 000 納米(nm) = 10000埃，也就是說1納米等于10埃，可見鍍鋁膜測厚儀的精度（食品行業(yè)鍍鋁層一般為200-500埃之間）。

    鍍鋁膜測厚儀*代為數(shù)碼管顯示，第二代為液晶顯示，此次推出的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀是技術的觸摸屏顯示，為第三代產品，屏幕觸控操作，菜單顯示。除此之外，與之前的相比有以下六點技術升級。

     一、HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀采用一種新材料探頭，該探頭對金屬材料尤其是鋁膜層非常敏感，測試精度由原來的10埃提高到1埃。

     二、測試區(qū)域內除探頭外全部更換為非金屬材料，渦流磁場區(qū)域沒有其他金屬，防止干擾。

     三、測試墊板選用特殊防靜電材料，避免放置鋁膜或移動鋁膜產生的微小靜電。

     四、機殼摒棄原來的45鋼外加烤漆工藝，使用一次成型的型材，美觀耐磨，輕便。

     五、校準儀器的標準物質原來使用光盤亮面，現(xiàn)在采用穩(wěn)定性更高的標準鋁箔作為標準物質。

     六、增加方塊電阻顯示，埃和方塊電阻可自由切換顯示，方便不同的標準計量。

     以上技術升級均是經過數(shù)次的篩選材料，軟件測試，試驗zui終確定的技術方案，保證了鍍鋁膜測厚儀的超高精度以及穩(wěn)定性、重復性。

                             HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀

    該HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測，包括食品煙草軟包裝鋁膜、渦流鍍層、蒸發(fā)鋁膜、微薄金屬膜、硅片蒸鋁層、 聲表面波鋁膜、 半導體鋁膜、 車燈鋁膜、塑料薄膜鋁膜等，符合國家標準GB/T4957。鋁膜測厚儀利用渦流原理制造，即被測蒸鋁層靠近高頻激磁磁場時，感應產生渦電流，因而產生渦流磁場，此渦流磁場反作用于原來激磁磁場，阻抗發(fā)生變化，然后通過檢測電路并進行放大，輸出與厚度相對應模擬電壓。zui終顯示厚度。

    該升級的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀將會憑借其的技術廣泛應用到超薄鋁層的測試領域。